Компания National Instruments приглашает Вас принять участие в серии технических семинаров, посвященных применению технологий NI для построения автоматизированных систем тестирования, контрольно-поверочной̆ аппаратуры, систем контроля и мониторинга.
Постоянное усложнение продукции современной̆ промышленности выдвигает все более сложные требования к системам автоматизации измерений, от входного контроля компонентной̆ базы и параметрического тестирования отдельных блоков до сложного функционального тестирования комплексных систем в условиях, максимально приближенным к реальным. С другой̆ стороны, ставятся все более сжатые временные рамки, как для тестирования, так и для разработки систем тестирования.
Для решения этих задач сегодня необходимо использовать современные подходы, позволяющие не только создать систему, наилучшим образом решающую текущую задачу, но и готовую к обновлению и модификации по мере изменения продукции и требований.
В ходе семинаров специалисты National Instruments расскажут о лучших практиках построения систем тестирования и новинках программных и аппаратных средств, а партнеры и заказчики поделятся своим опытом реализации сложных комплексных проектов с помощью технологий и продуктов National Instruments.
Целевая аудитория
Семинары предназначены для инженеров и руководителей групп разработчиков, заинтересованных в применении современных технологий.
Узнайте о ключевых технологиях NI, о том, как Вы можете применять их в соответствии с конкретными потребностями Вашей задачи.
Не упустите шанс научиться у технологических лидеров, пообщаться с Вашими коллегами и узнать, как Вы можете оптимизировать задачи, которые важны для Вашей деятельности.
Компания National Instruments приглашает принять участие в семинаре по стендовым испытаниям в Москве, 22 марта 2018 г.
Семинар посвящен применению технологий NI для построения автоматизированных систем тестирования, контрольно-поверочной аппаратуры, систем контроля и мониторинга.
В программе семинара:
- Актуальные задачи автоматизированных систем измерения, управления и моделирования;
- Встраиваемые системы мониторинга и управления;
- Автоматизированные системы управления стендовыми испытаниями;
- Технологии быстрого прототипирования и программно-аппаратного моделирования (HIL).
Участие в семинаре бесплатное, по предварительной регистрации.
